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基础信息Product information
产物名称：涂层测厚仪 膜厚计
产物型号：日本KETT LE-200J
产物介绍：
日本KETT LE-200J 涂层测厚仪 膜厚计本仪器采用了磁性测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
产物特性Product characteristics
日本KETT LE-200J 涂层测厚仪 膜厚计
日本KETT LE-200J 涂层测厚仪 膜厚计 特点： 本仪器采用了磁性测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。 LE-200J测定方法电磁式测定对象磁性金属上非磁性涂镀层测定范围0～1500um或0～60.0mils测定精度<15um±0.3um >15um±2%分辨率<100um 0.1um >100um 1um界限设定可设定上/下限数值测试单位公/英制互换显示方式LCD数显操作面板密封防水按键附属品铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书电源DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个体积80（W）×80（D）×30（H）重量1100g |
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